拼音
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GBT 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定.直排四探针法
硅外延层
扩散层
离子注入层

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GBT 14142-1993 硅外延层晶体完整性检查方法
硅外延层
晶体完整性
检查方法

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GBT 14142-2017 硅外延层晶体完整性检验方法 腐蚀法
硅外延层
晶体完整性
腐蚀法

37浏览2025-06-09上传pdf1.32MB未评分

GBT 14143-1993 300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
硅片
间隙氧含量
红外吸收

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GBT 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
硅晶体
间隙氧含量
径向变化

23浏览2025-06-09上传pdf0.68MB未评分

GBT 14144-1993 硅晶体中间隙氧含量经向变化测量方法
硅晶体
间隙氧含量
经向变化

27浏览2025-06-09上传pdf0.39MB未评分

GBT 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定干涉相衬显微镜法
硅外延层
堆垛层错密度
干涉相衬显微镜法

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GBT 14146-1993 硅外延层载流子浓度测定和探针电容--电压法
硅外延层
载流子浓度
探针电容

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GBT 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定.汞探针电容-电压法
硅外延层
载流子浓度
汞探针

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GBT 14148-2011 光学玻璃眼镜片毛坯
光学玻璃
眼镜片
毛坯

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