GB/T 30116-2013 标准详情

GB/T 30116-2013 现行
半导体生产设施电磁兼容性要求
Requirements for semiconductor manufacturing facility electromagnetic compatibility

标准内容导航

标准状态

2013-12-17
2014-04-15

标准信息

国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
L95
国家标准
现行
GB/T 30116-2013
半导体生产设施电磁兼容性要求
Requirements for semiconductor manufacturing facility electromagnetic compatibility

相似标准推荐

国家标准
GB/T 34971-2017 现行
半导体制造用气体处理指南
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
发布日期2017-11-01
实施日期2018-02-01
CCS分类G86
ICS分类71.040.40
地方标准
DB32/T 4894-2024 现行
微机电系统半导体气体传感器性能检测方法
发布日期2024-11-07
实施日期2024-12-07
CCS分类L40
ICS分类31.080
国家标准
GB/T 21226-2007 现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
发布日期2007-12-03
实施日期2008-05-20
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 26070-2010 现行
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
发布日期2011-01-10
实施日期2011-10-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.99
行业标准
SN/T 3480.4-2016 现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设备
发布日期2016-08-23
实施日期2017-03-01
CCS分类L95
ICS分类31-550
国家标准
GB/T 20522-2006 现行
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
Semiconductor devices Part 14-3: Semiconductor sensors - Pressure sensors
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 39771.1-2021 现行
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 1: Safety requirements and classification
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 5201-2012 现行
带电粒子半导体探测器测量方法
Test procedures for semiconductor charged particle detectors
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类F88
ICS分类27.120
国家标准
GB/T 31358-2015 现行
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
发布日期2015-02-04
实施日期2015-08-01
CCS分类L51
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 36356-2018 现行
功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for power light-emitting diode chips
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 14548-1993 现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
发布日期1993-07-31
实施日期1994-02-01
CCS分类U61
ICS分类47.020.60
国家标准
GB/T 44687-2024 现行
超硬磨料制品 半导体晶圆精密磨削用砂轮
Superabrasive products—Precision grinding wheels for semiconductor wafers
发布日期2024-09-29
实施日期2025-04-01
CCS分类J43
ICS分类25.100.70
地方标准
DB32/ 3747-2020 现行
半导体行业污染物排放标准
发布日期2020-02-06
实施日期2020-04-01
CCS分类Z60
ICS分类13.020.40
国家标准
GB/T 7581-1987 现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
发布日期1987-03-27
实施日期1987-11-01
CCS分类L42
ICS分类31.080
国家标准
GB/T 15652-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
国家标准
GB/T 13973-2012 现行
半导体管特性图示仪通用规范
General specification test methods for semiconductor device curve tracers
发布日期2012-12-31
实施日期2013-06-01
CCS分类L85
ICS分类17.220
国家标准
GB/T 14140-2025 现行
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
发布日期2025-08-01
实施日期2026-02-01
CCS分类H17
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 14048.12-2016 现行
低压开关设备和控制设备 第4-3部分:接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-3: Contactors and motor-starters—AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
发布日期2016-12-13
实施日期2017-07-01
CCS分类K32
ICS分类29.130.20
国家标准
GB/T 20521-2006 现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
发布日期2006-08-23
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 43894.1-2024 现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric(ZDD)
发布日期2024-04-25
实施日期2024-11-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 3859.4-2004 现行
半导体变流器 包括直接直流变流器的半导体自换相变流器
Semiconductor converter--Self-commutated semiconductor converters including direct d.c.converters
发布日期2004-05-14
实施日期2005-02-01
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 6616-2023 现行
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法
Test method for resistivity of semiconductor wafers and sheet resistance of semiconductor films—Noncontact eddy-current gauge
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 19629-2005 现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
发布日期2005-01-17
实施日期2005-06-01
CCS分类C43
ICS分类11.040.50
国家标准
GB/T 12669-2012 现行
半导体变流串级调速装置总技术条件
General specification for cascade speed control assembly with semiconductor converter
发布日期2012-06-29
实施日期2012-11-01
CCS分类K62
ICS分类29.160.30
国家标准
GB/T 10236-2006 现行
半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则
Guide for compatibility and protection of interference effects between semiconductor convertors and power supply system
发布日期2006-11-08
实施日期2007-04-01
CCS分类K46
ICS分类29.200
国家标准
GB/T 24975-2023 现行
低压电器环境意识设计导则
Guideline of environmentally conscious design for low-voltage apparatus
发布日期2023-09-07
实施日期2024-04-01
CCS分类K04
ICS分类29.020