T/GVS 006-2022 标准详情
T/GVS 006-2022
现行
半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法
Method of measuring output deviation stability for semiconductor RF power supply and microwave power supply
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标准状态
标准信息
适用范围
本文件规定了半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法的术语和定义、符号和缩略语、总则、测试条件、测试要求。 本文件适用于电气工作频率在100 kHz～3 GHz的半导体装备用射频电源和微波电源产品。
主要技术内容
本文件规定了半导体射频电源和微波电源的输出偏差稳定性测量方法的术语和定义、符号和缩略语、总则、测试条件、测试要求。本文件适用于电气工作频率在100 kHz～3 GHz的半导体装备用射频电源和微波电源产品。
起草单位
季华实验室、中山凯旋真空科技股份有限公司、暨南大学
起草人
胡琅、陈浩、卫红、李晓峰、高峰、刘彭义、李晓刚、陈科球
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