SJ/T 11817-2022 标准详情
SJ/T 11817-2022
现行
半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
国家标准
GB/T 29856-2013
现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
国家标准
GB/T 8750-2022
现行
半导体封装用金基键合丝、带
Gold-based bonding wire and bandlet for semiconductor package
行业标准
SJ/T 11850-2022
现行
半导体分立器件 3DK2219A、3DK2222A、3DK2222AUB型NPN硅小功率开关晶体管详细规范
国家标准
GB/T 15653-1995
现行
金属氧化物半导体气敏元件测试方法
Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准
GB/T 14048.12-2016
现行
低压开关设备和控制设备 第4-3部分:接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-3: Contactors and motor-starters—AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
国家标准
GB/T 36360-2018
现行
半导体光电子器件 中功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for middle power light-emitting diodes
国家标准
GB/T 45719-2025
现行
半导体器件 金属氧化物半导体(MOS) 晶体管的热载流子试验
Semiconductor devices—Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
地方标准
DB31/ 374-2024
现行
半导体行业污染物排放标准
国家标准
GB/T 7092-2021
现行
半导体集成电路外形尺寸
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
国家标准
GB/T 36357-2018
现行
中功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for middle power light-emitting diode chips
国家标准
GB/T 19629-2005
现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
国家标准
GB/T 34971-2017
现行
半导体制造用气体处理指南
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
国家标准
GB/T 43894.1-2024
现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric(ZDD)
国家标准
GB/T 36359-2018
现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
国家标准
GB/T 11499-2001
现行
半导体分立器件文字符号
Letter symbols for discrete semiconductor devices
国家标准
GB/T 31358-2015
现行
半导体激光器总规范
General specification for semiconductor lasers
国家标准
GB/T 15652-1995
现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准
GB/T 42676-2023
现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
国家标准
GB/T 26070-2010
现行
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
国家标准
GB/T 43136-2023
现行
超硬磨料制品 半导体芯片精密划切用砂轮
Superabrasive products—Precision dicing and cutting wheels for semiconductor chips
国家标准
GB/T 14548-1993
现行
船用半导体变流器通用技术条件
General specification for marine semiconductor convertors
行业标准
SJ/T 10482-1994
现行
半导体深能级的瞬态电容测试方法
国家标准
GB/T 43366-2023
现行
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
国家标准
GB/T 7581-1987
现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
国家标准
GB/T 17950-2000
现行
半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则
Semiconductor converter--Part 6:Application guide for the protection of semiconductor converters against overcurrent by fuses
行业标准
SJ/T 10804-2000
现行
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理