《SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》标准查询解读、电子版标准下载
SJ/T 2214-2015
现行
半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
《SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法》标准内容导航
标准状态
标准信息
起草单位
中电子科技集团公第四十四研究所
起草人
郭萍、王波、崔大键
相似标准推荐
国家标准
GB/T 7581-1987
现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
行业标准
SJ/T 11818.3-2022
现行
半导体紫外发射二极管 第3部分：器件规范
行业标准
SJ/T 11820-2022
现行
半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法
国家标准
GB/T 249-2026
即将实施
半导体分立器件型号命名方法
Rule of type designation for discrete semiconductor devices
团体标准
T/CASAS 006-2020
现行
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管通用技术规范
The general specification for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor
团体标准
T/CPSS 1004-2025
现行
车规级功率半导体模块动态特性测试规范
Test specifications of dynamic characteristics for power semiconductor modules in automotive applications
团体标准
T/CIET 722-2024
现行
半导体用高纯溅射靶材
行业标准
JB/T 6307.4-1992
现行
电力半导体模块测试方法双极型晶体管臂和臂对
国家标准
GB/T 35010.8-2018
现行
半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式
Semiconductor die products—Part8: EXPRESS model schema for data exchange
国家标准
GB/T 31359-2015
现行
半导体激光器测试方法
Test methods of semiconductor lasers
国家标准
GB/T 37131-2018
现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法（外文版EN）
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
团体标准
T/SDPEA 0004-2018
现行
半导体冷凝式智能除湿装置技术要求
Specification for semiconductor condensing intelligent dehumidification equipment
国家标准
GB/T 37131-2018
现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
国家标准
GB/T 15649-1995
现行
半导体激光二极管空白详细规范
Blank detail specification for semiconductor laser diodes
国家标准
GB/T 21226-2007
现行
半导体变流器 变流联结的标识代号
Semiconductor convertors - Identification code for convertor connections
国家标准
GB/T 29845-2013
现行
半导体制造设备的最终装配、包装、运输、拆包及安放导则
Guide for final assembly, packaging,transportation, unpacking, and relocation of semiconductor manufacturing equipment
国家标准
GB/T 7092-2021
现行
半导体集成电路外形尺寸
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
国家标准
GB/T 34590.11-2022
现行
道路车辆 功能安全 第11部分：半导体应用指南
Road vehicles—Functional safety—Part 11: Guidelines on applications to semiconductors
团体标准
T/GVS 005-2022 (2)
现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
行业标准
JB/T 6307.3-1992
现行
电力半导体模块测试方法整流管三相桥
国家标准
GB/T 15652-1995
现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
国家标准
GB/T 17950-2000
废止
半导体变流器 第6部分:使用熔断器保护半导体变流器防止过电流的应用导则
Semiconductor converter--Part 6:Application guide for the protection of semiconductor converters against overcurrent by fuses
国家标准
GB/T 19629-2005
现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
国家标准
GB/T 26070-2010
现行
化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
国家标准
GB/T 42676-2023
现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
行业标准
YS/T 1410-2021
现行
重有色冶金炉窑余热回收利用技术规范
下载电子版
正在请求下载信息...