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SJ/T 2658.8-2015 现行
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度

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标准状态

2015-10-10
2016-04-01

标准信息

工业和信息化部
工业和信息化部电子工业标准化研究院
修订
L53
31.080
方法标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 2658.8-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分：辐射强度

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

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