GB/T 4326-2025 标准详情
GB/T 4326-2025
即将实施
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准内容导航
标准状态
标准信息
相似标准推荐
行业标准
QB/T 5369-2019
现行
半导体制冷器具
国家标准
GB/T 10236-2006
现行
半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则
Guide for compatibility and protection of interference effects between semiconductor convertors and power supply system
行业标准
SJ/T 11849-2022
现行
半导体分立器件3DG3500、3DG3501型NPN硅高频小功率 晶体管详细规范
国家标准
GB/T 20521-2006
现行
半导体器件 第14-1部分: 半导体传感器-总则和分类
Semconductor devices Part 14-1: Semiconductor sensors - General and classification
团体标准
T/QGCML 3970-2024
现行
半导体车间金属粉尘智能检测分析系统
团体标准
T/CASAS 017-2021
现行
第三代半导体 微纳米金属烧结技术 术语
Terminology of micro-nano metallic sintering technology for wide-bandgap semiconductor
国家标准
GB/T 39771.1-2021
现行
半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法
Optical radiation safety of LEDs—Part 1: Safety requirements and classification
团体标准
T/ZZB 3888-2024
现行
半导体芯片测试用探针头
行业标准
JB/T 8669-1997
现行
中频感应加热用半导体变频装置
国家标准
GB/T 24578-2024
现行
半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法
Test method for measuring surface metal contamination on semiconductor wafers —Total reflection X-Ray fluorescence spectroscopy
行业标准
JB/T 6307.5-1994
现行
电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥
国家标准
GB/T 19629-2005
现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
行业标准
SN/T 3480.4-2016
现行
进口电子电工行业成套设备检验技术要求 第4部分:半导体封装测试设备
国家标准
GB/T 45716-2025
现行
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices—Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
国家标准
GB/T 14140-2025
现行
半导体晶片直径测试方法
Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
国家标准
GB/T 46227-2025
即将实施
半导体单晶材料透过率测试方法
Test method for transmittance of semiconductor single crystal materials
地方标准
DB32/ 3747-2020
现行
半导体行业污染物排放标准
行业标准
SJ/T 11818.3-2022
现行
半导体紫外发射二极管 第3部分:器件规范
国家标准
GB/T 34971-2017
现行
半导体制造用气体处理指南
Guide for gaseous effluent handling in semiconductor industry
国家标准
GB/T 15649-1995
现行
半导体激光二极管空白详细规范
Blank detail specification for semiconductor laser diodes
国家标准
GB/T 15529-1995
现行
半导体发光数码管空白详细规范
Blank detail specification for LED numeric displays
团体标准
T/CASAS 015-2022
现行
碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管 (SiC MOSFET)功率循环试验方法
Power cycling test method for silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect-transistor(SiC MOSFET)
国家标准
GB/T 35010.2-2018
现行
半导体芯片产品 第2部分:数据交换格式
Semiconductor die products—Part 2: Exchange data formats
行业标准
JB/T 7483-2005
现行
半导体电阻应变式力传感器
团体标准
T/QGCML 3956-2024
现行
半导体实验室恒湿温试验管理平台
国家标准
GB 7300.311-2025
即将实施
饲料添加剂 第3部分:矿物元素及其络(螯)合物 磷酸二氢钙
Feed additives—Part 3: Minerals and their complexes (or chelates)—Monocalcium phosphate