半导体器件
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QCT 1136-2020 电动汽车用绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块环境试验要求及试验方法
电动汽车
IGBT模块
环境试验
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QJ 1299-1987 硅微波混频、检波二极管筛选规范
硅微波混频
检波二极管
筛选规范
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QJ 1300-1987 小功率单向可控硅筛选规范
小功率单向可控硅
筛选规范
半导体器件
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QJ 1524-1988 中功率可控硅筛选规范
功率可控硅
筛选规范
半导体器件
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QJ 1907-1990 PIN二极管筛选规范
PIN二极管
筛选规范
半导体器件
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QJ 1906A-1997 半导体器件破坏性物理分析(DPA)方法和程序
半导体器件
破坏性物理分析
DPA
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QJ 1908-1990 半导体器件验收开盖检查方法
半导体器件
验收
开盖检查
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QJ 1908A-1998 半导体器件验收开盖检查方法
半导体器件
验收
开盖检查
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QJ 2225-1992 半导体器件使用规则
半导体器件
使用规则
可靠性
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QJ 2362-1992 阶跃恢复二极管筛选规范
阶跃恢复二极管
筛选规范
半导体器件
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QJ 2493-1993 微波二、三极管验收规范
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QJ 2799-1996 光导锑化铟探测器通用规范
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红外探测
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SJ 1226-1977 2AP9～2AP10型锗检波二极管
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SJ 1227-1977 2AP1～2AP8,2AP21和2AP27型锗检波二极管
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