半导体材料
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SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片
磷化铟
单晶棒
单晶片
22浏览2025-06-07上传pdf0.3MB未评分
SJ 3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法
磷化铟
单晶
位错
14浏览2025-06-07上传pdf0.42MB未评分
SJ 3246-1989 铝镓砷(AlxGa1-x As)材料中铝组分的光荧光测试方法
铝镓砷
光荧光测试
铝组分
12浏览2025-06-07上传pdf0.13MB未评分
SJ 3249.3-1989 半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法
砷化镓
铬浓度
红外吸收
14浏览2025-06-07上传pdf0.07MB未评分
SJT 10314-1992 直流四探针电阻率测试仪通用技术条件
直流四探针
电阻率测试仪
通用技术条件
11浏览2025-06-07上传pdf0.53MB未评分
DB35T 1146-2011 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
硅材料
杂质元素
辉光放电质谱法
14浏览2025-06-04上传pdf0.57MB未评分
DB13T 1314-2010 太阳能级单晶硅方棒、单晶硅片
太阳能级
单晶硅方棒
单晶硅片
18浏览2025-06-04上传pdf0.46MB未评分
TIAWBS 001-2017 碳化硅单晶
碳化硅单晶
半导体材料
晶体生长
13浏览2025-06-02上传pdf6.17MB未评分
TIAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
碳化硅
外延片
表面缺陷
14浏览2025-06-02上传pdf3.38MB未评分
TZZB 0648-2018 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片
硅单晶
抛光片
重掺磷
16浏览2025-06-02上传pdf0.52MB未评分
TIAWBS 007-2018 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法
碳化硅
同质外延层
厚度测量
15浏览2025-06-02上传pdf0.98MB未评分
TIAWBS 008-2019 SiC晶片的残余应力检测方法
SiC晶片
残余应力
检测方法
17浏览2025-06-02上传pdf0.6MB未评分
TZSA 38-2020 SiC晶片的残余应力检测方法
SiC晶片
残余应力
检测方法
15浏览2025-06-02上传pdf1.24MB未评分
TIAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
碳化硅
单晶抛光片
位错密度
18浏览2025-06-02上传pdf0.91MB未评分
TIAWBS 001-2021 碳化硅单晶
碳化硅单晶
半导体材料
晶体生长
12浏览2025-06-02上传pdf0.71MB未评分