半导体
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GBT 6520-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法
硅片
翘曲度
非接触式
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GBT 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
硅片
电阻率
测定
23浏览2025-06-08上传pdf0.73MB未评分
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硅片
电阻率
测定
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GBT 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法
硅片
厚度
测试方法
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硅片
厚度
测试方法
39浏览2025-06-08上传pdf0.83MB未评分
GBT 6619-1995 硅片弯曲度测试方法
硅片
弯曲度
测试方法
30浏览2025-06-08上传pdf0.35MB未评分
GBT 6619-2009 硅片弯曲度测试方法
硅片
弯曲度
测试方法
34浏览2025-06-08上传pdf0.74MB未评分
GBT 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法
硅片
翘曲度
非接触式
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GBT 6620-1995 硅片翘曲度非接触式测试方法
硅片
翘曲度
非接触式
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GBT 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
硅片
表面平整度
测试方法
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GBT 6800-1986 半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理
半导体
集成音响电路
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GBT 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
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集成电路
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GBT 7509-1987 半导体集成电路微处理器空白详细规范(可供认证用)
半导体
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GBT 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
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分立器件
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GBT 8646-1998 半导体键合铝-1﹪硅细丝
半导体
键合铝
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28浏览2025-06-08上传pdf0.41MB未评分