晶体结构
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GBT 11071-2006 区熔锗锭
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GBT 12962-1996 硅单晶
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GBT 1555-1997 半导体单晶晶向测定方法
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GBT 30703-2014 微束分析 电子背散射衍射取向分析方法导则
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GBT 43885-2024 碳化硅外延片
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JBT 4220-1999 人造石墨的点阵参数测定方法
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JBT 4220-2011 人造石墨的点阵参数测定方法
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JBT 9400-1999 X射线衍射仪.技术条件
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