GB/T 44796-2024 标准详情

GB/T 44796-2024 现行
集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求
Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-sawing process and evaluation

标准内容导航

标准状态

2024-10-26
2025-05-01

标准信息

工业和信息化部(电子)
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
工业和信息化部(电子)
L55
31.200
国家标准
现行
GB/T 44796-2024
集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求
Integrated circuit 3D packaging—Requirement for bumping-wafer-sawing process and evaluation

相似标准推荐

行业标准
JR/T 0045.4-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第4部分:非接触卡片检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
JR/T 0025.16-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第16部分:IC卡互联网终端规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 14031-1992 现行
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
发布日期1992-12-17
实施日期1993-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 43796-2024 现行
集成电路封装设备远程运维 数据采集
Remote operation and maintenance of integrated circuit packaging equipment—Data acquisition
发布日期2024-03-15
实施日期2024-10-01
CCS分类L97
ICS分类31.260
行业标准
JR/T 0045.5-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第5部分:非接触终端检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 14032-1992 现行
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
发布日期1992-12-17
实施日期1993-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 18500.1-2001 现行
半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 4:Interface integrated circuits--Section 1:Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters(DAC)
发布日期2001-11-05
实施日期2002-06-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 14119-1993 现行
半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)
Blankdetail specification for semiconductor inte-grated circuit fusible-link programmable bipolar read-only memories
发布日期1993-01-21
实施日期1993-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 42968.3-2025 现行
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method
发布日期2025-12-02
实施日期2025-12-02
CCS分类L56
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0025.10-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第10部分:借记/贷记应用个人化指南
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
YD/T 2926-2021 现行
嵌入式通用集成电路卡(eUICC)远程管理平台技术要求(第一阶段)
发布日期2021-05-17
实施日期2021-07-01
CCS分类M36
ICS分类33.030
行业标准
YD/T 4640-2023 现行
面向消费电子设备的支持远程SIM配置的嵌入式通用集成电路卡(eUICC)技术要求
发布日期2023-12-20
实施日期2024-04-01
CCS分类M21
ICS分类33.03
行业标准
JR/T 0045.3-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第3部分:借记/贷记应用个人化检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 5965-2000 现行
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 2:Digital integrated circuits--Section one--Blank detail specification for bipolar monolithic digital integrated circuit gates(excluding uncommitted logic arrays)
发布日期2000-01-03
实施日期2000-07-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 17940-2000 现行
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 3:Analogue integrated circuits
发布日期2000-01-03
实施日期2000-07-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 16649.10-2002 现行
识别卡 带触点的集成电路卡 第10部分:同步卡的电信号和复位应答
Identification cards--Intergrated circuit(s) cards with contacts--Part 10:Electronic signals and answer to reset for synchronous cards
发布日期2002-12-04
实施日期2003-05-01
CCS分类L64
ICS分类35.240.15
国家标准
GB/T 15878-2015 现行
半导体集成电路 小外形封装引线框架规范
Semiconductor integrated circuits—Specification of leadframes for small outline package
发布日期2015-05-15
实施日期2016-01-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 14113-1993 现行
半导体集成电路封装术语
Terminology of packages for semiconductor inte-grated circuits
发布日期1993-01-21
实施日期1993-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0025.6-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第6部分:借记/贷记应用终端规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
行业标准
JR/T 0025.12-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第12部分:非接触式IC卡支付规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 4589.1-2006 现行
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
发布日期2006-10-10
实施日期2007-02-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
行业标准
JR/T 0045.2-2014 现行
中国金融集成电路(IC)卡检测规范 第2部分:借记/贷记应用终端检测规范
发布日期2014-07-30
实施日期2014-07-30
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 19403.1-2003 现行
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
发布日期2003-11-24
实施日期2004-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
行业标准
JR/T 0025.5-2018 现行
中国金融集成电路(IC)卡规范 第5部分:借记/贷记应用卡片规范
发布日期2018-11-28
实施日期2018-11-28
CCS分类A11
ICS分类35.240.40
国家标准
GB/T 14028-2018 现行
半导体集成电路 模拟开关测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L56
ICS分类31.200
地方标准
DB15/T 4050-2025 现行
气象灾害风险普查 高温灾害
发布日期2025-06-06
实施日期2025-07-06
CCS分类A47
ICS分类07.060