首页› 电子› SJ/T 1480-2016

《SJ/T 1480-2016 半导体分立器件 3CG130型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范》标准查询解读、电子版标准下载

SJ/T 1480-2016 现行
半导体分立器件 3CG130型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范

《SJ/T 1480-2016 半导体分立器件 3CG130型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范》标准内容导航

标准状态

2016-04-05
2016-09-01

标准信息

工业和信息化部
全国半导体器件标准化技术委员会
修订
L42
31.080.30
产品标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 1480-2016
半导体分立器件 3CG130型硅ＰＮＰ高频小功率晶体管详细规范

起草单位

济南市半导体元件实验所

起草人

侯秀萍、卞岩

相似标准推荐

国家标准
GB/T 249-2026 即将实施
半导体分立器件型号命名方法
Rule of type designation for discrete semiconductor devices
发布日期2026-02-27
实施日期2026-09-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
行业标准
YD/T 2001.2-2011 现行
用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法
发布日期2011-12-20
实施日期2012-02-01
CCS分类M33
ICS分类33.180.01
行业标准
SJ/T 11817-2022 现行
半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
行业标准
JB/T 6307.5-1994 现行
电力半导体模块测试方法 双极型晶体管单相桥和三相桥
发布日期1994-12-09
实施日期1995-06-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 11851-2022 现行
半导体分立器件 S3DK5794型NPN硅小功率开关晶体管对管详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L42
ICS分类31.080.30
国家标准
GB/T 14048.6-2016 废止
低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器(含软起动器)
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-2: Contactors and motor-starters—AC semiconductor motor controllers and starters (including soft-starters)
发布日期2016-08-29
实施日期2017-03-01
CCS分类K31
ICS分类29.120.40
行业标准
SJ/T 10071-1991 现行
半导体集成电路CH2022型4位移位寄存器详细规范
发布日期1991-04-08
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 35010.7-2018 现行
半导体芯片产品 第7部分：数据交换的XML格式
Semiconductor die products—Part 7: XML schema for data exchange
发布日期2018-03-15
实施日期2018-08-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
国家标准
GB/T 36359-2018 现行
半导体光电子器件 小功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for lower power light-emitting diodes
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
团体标准
T/GVS 005-2022 (2) 现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
发布日期2022-03-28
实施日期2022-03-28
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 10436-1993 现行
半导体电阻应变计空白详细规范
发布日期1993-12-17
实施日期1994-06-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 10039-1991 现行
半导体集成电路CMOS4000系列译码器
发布日期1991-04-08
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 11763-2020 现行
半导体制造设备人机界面规范
发布日期2020-12-09
实施日期2021-04-01
CCS分类L95
ICS分类31.55
国家标准
GB/T 19629-2005 现行
医用电气设备 X射线诊断影像中使用的电离室和(或)半导体探测器剂量计
Medical Electrical Equipment-Dosimeters with ionization chambers and/or semi-conductors as used in X-ray diagnostic imaging
发布日期2005-01-17
实施日期2005-06-01
CCS分类C43
ICS分类11.040.50
团体标准
T/CIET 722-2024 现行
半导体用高纯溅射靶材
发布日期2024-10-23
实施日期2024-10-23
CCS分类
ICS分类29.045
国家标准
GB/T 36358-2018 现行
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范
Semiconductor optoelectronic devices—Blank detail specification for power light-emitting diodes
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 7581-2026 即将实施
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for discrete semiconductor devices
发布日期2026-03-31
实施日期2026-10-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
行业标准
SJ/T 10435-1993 现行
半导体电阻应变计总规范
发布日期1993-12-17
实施日期1994-06-01
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 2658.7-2015 现行
半导体红外发射二极管测量方法 第7部分：辐射通量
发布日期2015-10-10
实施日期2016-04-01
CCS分类L53
ICS分类31.080
国家标准
GB/T 21548-2021 现行
光通信用高速直接调制半导体激光器的测量方法
Methods of measurement of the high speed semiconductor lasers directly modulated for optical fiber communication systems
发布日期2021-04-30
实施日期2021-08-01
CCS分类M31
ICS分类31.260
国家标准
GB/T 43366-2023 现行
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
发布日期2023-11-27
实施日期2024-03-01
CCS分类31.080.01
ICS分类49.035
行业标准
SJ/T 2658.12-2015 现行
半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽
发布日期2015-10-10
实施日期2016-04-01
CCS分类L53
ICS分类31.080
团体标准
T/AHEPI 04-2022 现行
温室气体通量监测技术规范 可调谐半导体激光吸收光谱法
发布日期2022-12-20
实施日期2023-01-03
CCS分类
ICS分类13.040.20 环境空气
国家标准
GB/T 37131-2018 现行
纳米技术 半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法
Nanotechnologies—Test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy
发布日期2018-12-28
实施日期2018-12-28
CCS分类G10
ICS分类17.180
国家标准
GB/T 37031-2018 现行
半导体照明术语
Semiconductor lighting terminology
发布日期2018-12-28
实施日期2018-12-28
CCS分类L50
ICS分类31.260
行业标准
SJ/T 11652-2016 现行
离散制造业生产管理用射频识别标签数据模型
发布日期2016-04-05
实施日期2016-09-01
CCS分类L70
ICS分类35.040