《SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽》标准查询解读、电子版标准下载

SJ/T 2658.12-2015 现行
半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

《SJ/T 2658.12-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽》标准内容导航

标准状态

2015-10-10
2016-04-01

标准信息

工业和信息化部
工业和信息化部电子工业标准化研究院
修订
L53
31.080
方法标准
电子
行业标准
现行
SJ/T 2658.12-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人

张戈、赵英

相似标准推荐

国家标准
GB/T 42676-2023 现行
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Test method for crystalline quality of semiconductive single crystal—X-ray diffraction method
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
团体标准
T/GVS 005-2022 (2) 现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
发布日期2022-03-28
实施日期2022-03-28
CCS分类
ICS分类
行业标准
JB/T 6307.1-1992 现行
电力半导体模块测试方法整流管臂对
发布日期1992-06-26
实施日期1993-01-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 7581-2026 即将实施
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for discrete semiconductor devices
发布日期2026-03-31
实施日期2026-10-01
CCS分类L40
ICS分类31.080.01
国家标准
GB/T 43894.1-2024 现行
半导体晶片近边缘几何形态评价 第1部分:高度径向二阶导数法(ZDD)
Practice for determining semiconductor wafer near-edge geometry—Part 1:Measured height data array using a curvature metric(ZDD)
发布日期2024-04-25
实施日期2024-11-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 7092-2021 现行
半导体集成电路外形尺寸
Outline dimensions of semiconductor integrated circuits
发布日期2021-03-09
实施日期2021-10-01
CCS分类L55
ICS分类31.200
地方标准
DB32/T 4894-2024 现行
微机电系统半导体气体传感器性能检测方法
发布日期2024-11-07
实施日期2024-12-07
CCS分类L40
ICS分类31.080
团体标准
T/GSEE 0011-2023 现行
高压交流电路半导体开关设备技术规范
Technical specifications for high-voltage AC circuits semiconductor switchgear
发布日期2023-12-05
实施日期2023-12-05
CCS分类
ICS分类29.130.10 高压开关装置和控制器
行业标准
JB/T 8669-1997 现行
中频感应加热用半导体变频装置
发布日期1997-12-17
实施日期1998-02-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 7581-1987 现行
半导体分立器件外形尺寸
Dimensions of outlines for semiconductor discrete devices
发布日期1987-03-27
实施日期1987-11-01
CCS分类L42
ICS分类31.080
团体标准
T/QGCML 3970-2024 现行
半导体车间金属粉尘智能检测分析系统
发布日期2024-03-27
实施日期2024-04-11
CCS分类
ICS分类35.240.01 信息技术应用综合
行业标准
SJ/T 10685-1995 现行
半导体调幅广播收音机用中频变压器及振荡线圈
发布日期1995-09-12
实施日期1996-01-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 29845-2013 现行
半导体制造设备的最终装配、包装、运输、拆包及安放导则
Guide for final assembly, packaging,transportation, unpacking, and relocation of semiconductor manufacturing equipment
发布日期2013-11-12
实施日期2014-04-15
CCS分类L95
ICS分类
国家标准
GB/T 1555-2023 现行
半导体单晶晶向测定方法
Test methods for determining the orientation of a semiconductive single crystal
发布日期2023-08-06
实施日期2024-03-01
CCS分类H21
ICS分类77.040
国家标准
GB/T 14048.12-2016 废止
低压开关设备和控制设备 第4-3部分:接触器和电动机起动器 非电动机负载用交流半导体控制器和接触器
Low-voltage switchgear and controlgear—Part 4-3: Contactors and motor-starters—AC semiconductor controllers and contactors for non-motor loads
发布日期2016-12-13
实施日期2017-07-01
CCS分类K32
ICS分类29.130.20
团体标准
T/SZBSIA 006-2022 现行
IC类半导体固晶机技术规范
Semiconductor di e bonder technical?norm
发布日期2022-09-23
实施日期2022-09-24
CCS分类
ICS分类25-010
行业标准
SJ/T 11817-2022 现行
半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
团体标准
T/GVS 005-2022 现行
半导体装备用绝压电容薄膜真空计比对法测试规范
Testing specification for contrast method of absolute pressure capacitance diaphragm vacuum gauge in the semiconductor equipment
发布日期2022-03-28
实施日期2022-03-28
CCS分类J 78
ICS分类23.160
国家标准
GB/T 29856-2013 现行
半导体性单壁碳纳米管的近红外光致发光光谱表征方法
Characterization of semiconducting single-walled carbon nanotubes using near infrared photoluminescence spectroscopy
发布日期2013-11-12
实施日期2014-04-15
CCS分类G12
ICS分类71.060.99
国家标准
GB/T 4326-2006 废止
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
发布日期2006-07-18
实施日期2006-11-01
CCS分类H17
ICS分类77.040.01
国家标准
GB/T 15652-1995 现行
金属氧化物半导体气敏元件总规范
Generic specification for gas sensors of metal-oxide semiconductor
发布日期1995-07-24
实施日期1996-04-01
CCS分类L15
ICS分类31.020
行业标准
SJ/T 11818.1-2022 现行
半导体紫外发射二极管 第1部分:测试方法
发布日期2022-10-20
实施日期2023-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.26
团体标准
T/SZBSIA 006-2025 现行
IC类半导体固晶机技术规范
发布日期2025-12-02
实施日期2025-12-02
CCS分类
ICS分类
行业标准
SJ/T 10149-1991 现行
电子元器件图形库 半导体分立器件图形
发布日期1991-04-02
实施日期1991-07-01
CCS分类
ICS分类
国家标准
GB/T 36356-2018 现行
功率半导体发光二极管芯片技术规范
Technical specification for power light-emitting diode chips
发布日期2018-06-07
实施日期2019-01-01
CCS分类L53
ICS分类31.260
行业标准
SJ/T 11462.3.1-2016 现行
电子设备用编码器 第3-1部分:空白详细规范 绝对型旋转编码器 评定水平EZ
发布日期2016-01-15
实施日期2016-06-01
CCS分类L14
ICS分类31.040.99