半导体
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SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
半导体
耦合器
饱和
916浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.4-1982 半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
973浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
半导体
耦合器
击穿
619浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.3-1982 半导体光耦合器(二极管)正向电流的测试方法
半导体
耦合器
电流
684浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.2-1982 半导体光耦合器(二极管)正向压降的测试方法
半导体
耦合器
测试
661浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
半导体
电流
测试
623浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2215.1-1982 半导体光耦合器测试方法总则
半导体
耦合器
总则
822浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
半导体
电流
测试
755浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
半导体
脉冲
下降
870浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
半导体
电容
测试
883浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
半导体
发射极
击穿
727浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
半导体
饱和
测试
917浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
半导体
测试
方法
591浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
半导体
电流
测试
938浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件
SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
半导体
击穿
电压
617浏览行业标准-电子L54电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体光敏器件