单晶片
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GBT 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
碳化硅
单晶片
直径
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GBT 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
碳化硅
单晶片
厚度
35浏览2025-06-09上传pdf0.33MB未评分
GBT 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
碳化硅
单晶片
微管密度
26浏览2025-06-09上传pdf1MB未评分
SJ 20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
锑化铟
单晶片
红外探测器
38浏览2025-06-07上传pdf0.45MB未评分
SJ 3241-1989 砷化镓单晶棒及片
砷化镓
单晶棒
单晶片
39浏览2025-06-07上传pdf0.33MB未评分
SJ 3243-1989 磷化铟单晶棒及片
磷化铟
单晶棒
单晶片
32浏览2025-06-07上传pdf0.3MB未评分
TIAWBS 011-2019 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法
导电碳化硅
单晶片
电阻率
37浏览2025-06-02上传pdf0.45MB未评分
TIAWBS 013-2019 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法
碳化硅
单晶片
电阻率
27浏览2025-06-02上传pdf0.53MB未评分
TIAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
氧化镓
单晶片
X射线
32浏览2025-06-02上传pdf0.46MB未评分
TIAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
碳化硅
单晶片
X射线
41浏览2025-06-02上传pdf1.5MB未评分
TZSA 231-2024 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
氧化镓
单晶片
X射线双晶摇摆曲线
33浏览2025-06-02上传pdf0.33MB未评分