硅片
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GBT 19444-2004 硅片氧沉淀特性的测定-间隙氧含量减少法
硅片
氧沉淀
间隙氧
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YST 26-1992 硅片边缘轮廓检验方法
硅片
边缘轮廓
检验方法
7 浏览量2025-06-10上传pdf0.06MB暂未评分
YST 28-1992 硅片包装
硅片
包装
半导体
8 浏览量2025-06-10上传pdf0.05MB暂未评分
GB 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
硅片
径向电阻率
测量方法
8 浏览量2025-06-09上传pdf0.33MB暂未评分
GBT 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
硅片
径向电阻率
测量方法
10 浏览量2025-06-09上传pdf0.86MB暂未评分
GBT 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
硅片
径向电阻率
测量方法
4 浏览量2025-06-09上传pdf0.83MB暂未评分
GBT 13388-1992 硅片参考面结晶学取向X射线测量方法
硅片
结晶学取向
X射线
9 浏览量2025-06-09上传pdf0.28MB暂未评分
GBT 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
硅片
结晶学取向
X射线
11 浏览量2025-06-09上传pdf1.43MB暂未评分
GBT 14140-2009 硅片直径测量方法
硅片
直径
测量方法
7 浏览量2025-06-09上传pdf0.78MB暂未评分
GBT 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法
硅片
直径测量
光学投影法
6 浏览量2025-06-09上传pdf0.33MB暂未评分
GBT 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法
硅片
直径
测量方法
9 浏览量2025-06-09上传pdf0.24MB暂未评分
GBT 14143-1993 300-900μm硅片间隙氧含量红外吸收测量方法
硅片
间隙氧含量
红外吸收
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GBT 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法
硅片
抗弯强度
测试方法
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SJT 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法
硅片
氧沉淀
间隙氧
7 浏览量2025-06-09上传pdf0.11MB暂未评分
GBT 24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物
热解吸
气相色谱法
硅片
11 浏览量2025-06-09上传pdf0.88MB暂未评分