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《SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法》标准查询解读、电子版标准下载

SJ/T 11399-2009 现行
半导体发光二极管芯片测试方法

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标准状态

2009-11-17
2010-01-01

标准信息

工业和信息化部
中国电子技术标准化研究所
制定
L45
无
电子
行业标准
现行
SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法

起草单位

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

起草人

鲍超、胡爱华 等

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