外延层
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GB 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
砷化镓
外延层
载流子浓度
30浏览2025-06-09上传pdf0.14MB未评分
GBT 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
砷化镓
外延层
载流子浓度
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GBT 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
砷化镓
外延层
载流子浓度
38浏览2025-06-09上传pdf0.39MB未评分
GBT 35310-2017 200mm硅外延片
硅外延片
200mm
半导体材料
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GBT 8758-1988 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
砷化镓
外延层
厚度
24浏览2025-06-08上传pdf0.32MB未评分
GBT 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
砷化镓
外延层
厚度测量
32浏览2025-06-08上传pdf0.38MB未评分
SJ 1550-1979 硅外延片检测方法
硅外延片
检测方法
半导体
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SJ 3244.2-1989 砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法
砷化镓
磷化铟
晶格失配
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SJ 3247-1989 同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法
砷化镓
外延层
厚度
36浏览2025-06-07上传pdf0.18MB未评分
TIAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定_汞探针电容-电压法
碳化硅
外延层
载流子浓度
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TCASAS 004.1-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷术语
碳化硅
衬底
外延层
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TCASAS 004.2-2018 4H碳化硅衬底及外延层缺陷图谱
碳化硅
衬底
外延层
31浏览2025-06-02上传pdf3.6MB未评分