半导体材料
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GBT 4059-2007 硅多晶气氛区熔基磷检验方法
硅多晶
气氛区熔
磷检验
39浏览2025-06-08上传pdf0.84MB未评分
GBT 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法
硅多晶
气氛区熔
基磷
33浏览2025-06-08上传pdf0.39MB未评分
GBT 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼检验
37浏览2025-06-08上传pdf0.21MB未评分
GBT 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼
24浏览2025-06-08上传pdf0.36MB未评分
GBT 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼检验
25浏览2025-06-08上传pdf0.82MB未评分
GBT 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
氮化镓
单晶衬底片
晶面曲率半径
26浏览2025-06-08上传pdf0.38MB未评分
GBT 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
碳化硅单晶
位错密度
测试方法
26浏览2025-06-08上传pdf1.63MB未评分
GBT 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
硅单晶
氮含量
二次离子质谱法
51浏览2025-06-08上传pdf0.36MB未评分
GBT 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
半绝缘碳化硅
电阻率
非接触测试
36浏览2025-06-08上传pdf0.47MB未评分
GBT 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
碳化硅
外延层厚度
红外反射法
34浏览2025-06-08上传pdf0.38MB未评分
GBT 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱
碳化硅晶体
缺陷图谱
半导体材料
40浏览2025-06-08上传pdf28.2MB未评分
GBT 43885-2024 碳化硅外延片
碳化硅
外延片
半导体材料
35浏览2025-06-08上传pdf0.43MB未评分
GBT 5238-1995 锗单晶
锗单晶
半导体材料
晶体生长
27浏览2025-06-08上传pdf0.28MB未评分
GBT 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
锗单晶
锗单晶片
半导体材料
39浏览2025-06-08上传pdf0.7MB未评分
GBT 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
锗单晶
位错腐蚀坑
密度测量
37浏览2025-06-08上传pdf1.49MB未评分