半导体材料
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GBT 14844-1993 半导体材料牌号表示方法
半导体材料
牌号
表示方法
12 浏览量2025-06-09上传pdf0.29MB暂未评分
GBT 14844-2018 半导体材料牌号表示方法
半导体材料
牌号
表示方法
8 浏览量2025-06-09上传pdf0.32MB暂未评分
GBT 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
红外反射
重掺杂衬底
轻掺杂硅外延层
9 浏览量2025-06-09上传pdf0.43MB暂未评分
GBT 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
半导体材料
导电类型
测试方法
4 浏览量2025-06-09上传pdf0.67MB暂未评分
GBT 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
半导体材料
导电类型
测试方法
7 浏览量2025-06-09上传pdf0.49MB暂未评分
GBT 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
硅单晶
电阻率
测定方法
5 浏览量2025-06-09上传pdf1.02MB暂未评分
GBT 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
硅单晶
锗单晶
电阻率测定
8 浏览量2025-06-09上传pdf0.91MB暂未评分
GBT 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
9 浏览量2025-06-09上传pdf0.99MB暂未评分
GBT 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
8 浏览量2025-06-09上传pdf0.64MB暂未评分
GBT 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
8 浏览量2025-06-09上传pdf1.19MB暂未评分
GBT 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
硅晶体
完整性
化学择优腐蚀
9 浏览量2025-06-09上传pdf12.3MB暂未评分
GBT 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
硅晶体
间隙氧
红外吸收
7 浏览量2025-06-09上传pdf0.42MB暂未评分
GBT 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
硅晶体
间隙氧
红外吸收
3 浏览量2025-06-09上传pdf0.4MB暂未评分
GBT 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
硅
碳含量
红外吸收
8 浏览量2025-06-09上传pdf0.38MB暂未评分
GBT 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法
硅片
抗弯强度
测试方法
11 浏览量2025-06-09上传pdf0.51MB暂未评分