GBT 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法
硅单晶
Ⅲ-Ⅴ族杂质
光致发光

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GBT 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
重掺n型硅衬底
硼沾污
二次离子质谱

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GBT 25074-2010 太阳能级多晶硅
太阳能级多晶硅
纯度
电阻率

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GBT 25074-2017 太阳能级多晶硅
太阳能级多晶硅
纯度
电阻率

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GBT 25075-2010 太阳能电池用砷化镓单晶
砷化镓单晶
太阳能电池
半导体材料

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GBT 25076-2018 太阳能电池用硅单晶
太阳能电池
硅单晶
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GBT 25076-2010 太阳电池用硅单晶
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硅单晶
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GBT 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
硅晶片
超薄氧化硅层
厚度测量

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GBT 26065-2010 硅单晶抛光试验片规范
硅单晶
抛光试验片
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GBT 26066-2010 硅晶片上浅腐蚀坑检测的测试方法
硅晶片
浅腐蚀坑
检测方法

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GBT 26069-2010 硅退火片规范
硅退火片
半导体材料
尺寸要求

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GBT 26069-2022 硅单晶退火片
硅单晶
退火片
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GBT 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
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锗单晶
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硅单晶
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GBT 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
锗单晶
电阻率
直流四探针

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