半导体材料
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GBT 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
半导体材料
导电类型
测试方法
12浏览2025-06-09上传pdf0.49MB未评分
GBT 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法
硅单晶
电阻率
测定方法
10浏览2025-06-09上传pdf1.02MB未评分
GBT 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
硅单晶
锗单晶
电阻率测定
13浏览2025-06-09上传pdf0.91MB未评分
GBT 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
16浏览2025-06-09上传pdf0.99MB未评分
GBT 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
13浏览2025-06-09上传pdf0.64MB未评分
GBT 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
硅
锗
少数载流子寿命
14浏览2025-06-09上传pdf1.19MB未评分
GBT 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
硅晶体
完整性
化学择优腐蚀
16浏览2025-06-09上传pdf12.3MB未评分
GBT 1557-2006 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
硅晶体
间隙氧
红外吸收
14浏览2025-06-09上传pdf0.42MB未评分
GBT 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
硅晶体
间隙氧
红外吸收
7浏览2025-06-09上传pdf0.4MB未评分
GBT 1558-2023 硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
硅
碳含量
红外吸收
13浏览2025-06-09上传pdf0.38MB未评分
GBT 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法
硅片
抗弯强度
测试方法
19浏览2025-06-09上传pdf0.51MB未评分
GBT 15713-1995 锗单晶片
锗单晶片
半导体材料
晶体质量
19浏览2025-06-09上传pdf0.3MB未评分
SJT 10625-1995 锗单晶体中间隙氧含量的红外吸收测定方法
锗单晶体
间隙氧含量
红外吸收
16浏览2025-06-09上传pdf0.08MB未评分
SJT 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法
硅片
氧沉淀
间隙氧
14浏览2025-06-09上传pdf0.11MB未评分
SJT 11775-2021 半导体材料多线切割机
半导体材料
多线切割机
设备要求
17浏览2025-06-09上传pdf3.79MB未评分