半导体材料
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GBT 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法
半绝缘碳化硅
电阻率
非接触测试
14 浏览量2025-06-08上传pdf0.47MB暂未评分
GBT 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法
碳化硅
外延层厚度
红外反射法
13 浏览量2025-06-08上传pdf0.38MB暂未评分
GBT 43612-2023 碳化硅晶体材料缺陷图谱
碳化硅晶体
缺陷图谱
半导体材料
5 浏览量2025-06-08上传pdf28.2MB暂未评分
GBT 43885-2024 碳化硅外延片
碳化硅
外延片
半导体材料
12 浏览量2025-06-08上传pdf0.43MB暂未评分
GBT 5238-1995 锗单晶
锗单晶
半导体材料
晶体生长
10 浏览量2025-06-08上传pdf0.28MB暂未评分
GBT 5238-2009 锗单晶和锗单晶片
锗单晶
锗单晶片
半导体材料
14 浏览量2025-06-08上传pdf0.7MB暂未评分
GBT 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
锗单晶
位错腐蚀坑
密度测量
12 浏览量2025-06-08上传pdf1.49MB暂未评分
GBT 6621-1995 硅抛光片表面平整度测试方法
硅抛光片
表面平整度
测试方法
7 浏览量2025-06-08上传pdf0.58MB暂未评分
GBT 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
硅抛光片
表面质量
目测检验
8 浏览量2025-06-08上传pdf0.23MB暂未评分
GBT 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
硅抛光片
表面质量
目测检验
13 浏览量2025-06-08上传pdf0.7MB暂未评分
GBT 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
砷化镓
载流子浓度
等离子共振
6 浏览量2025-06-08上传pdf0.3MB暂未评分
GBT 8756-2018 锗晶体缺陷图谱
锗晶体
缺陷图谱
半导体材料
7 浏览量2025-06-08上传pdf1.96MB暂未评分
GBT 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
锗晶体
缺陷图谱
半导体材料
10 浏览量2025-06-08上传pdf7.76MB暂未评分
GBT 8760-1988 砷化镓单晶位错密度的测量方法
砷化镓
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位错密度
12 浏览量2025-06-08上传pdf0.4MB暂未评分
GBT 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法
砷化镓
单晶
位错密度
4 浏览量2025-06-08上传pdf2.14MB暂未评分