半导体材料
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GBT 37385-2019 硅中氯离子含量的测定 离子色谱法
硅
氯离子
离子色谱法
5 浏览量2025-06-08上传pdf0.34MB暂未评分
GBT 39144-2020 氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法
氮化镓
镁含量
二次离子质谱法
12 浏览量2025-06-08上传pdf0.32MB暂未评分
GBT 39145-2020 硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
硅片
金属元素
含量测定
12 浏览量2025-06-08上传pdf0.39MB暂未评分
GBT 39160-2020 薄膜太阳能电池用碲锌镉靶材
碲锌镉靶材
薄膜太阳能电池
光电转换
10 浏览量2025-06-08上传pdf0.32MB暂未评分
GBT 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
硅抛光片
氧化诱生缺陷
检验方法
7 浏览量2025-06-08上传pdf0.88MB暂未评分
GBT 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法
硅抛光片
氧化诱生缺陷
检验方法
7 浏览量2025-06-08上传pdf6.07MB暂未评分
GBT 4059-1983 硅多晶气氛区熔磷检验方法
硅多晶
气氛区熔
磷检验
6 浏览量2025-06-08上传pdf0.23MB暂未评分
GBT 4059-2007 硅多晶气氛区熔基磷检验方法
硅多晶
气氛区熔
磷检验
11 浏览量2025-06-08上传pdf0.84MB暂未评分
GBT 4059-2018 硅多晶气氛区熔基磷检验方法
硅多晶
气氛区熔
基磷
10 浏览量2025-06-08上传pdf0.39MB暂未评分
GBT 4060-1983 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼检验
8 浏览量2025-06-08上传pdf0.21MB暂未评分
GBT 4060-2018 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼
8 浏览量2025-06-08上传pdf0.36MB暂未评分
GBT 4060-2007 硅多晶真空区熔基硼检验方法
硅多晶
真空区熔
基硼检验
6 浏览量2025-06-08上传pdf0.82MB暂未评分
GBT 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法
氮化镓
单晶衬底片
晶面曲率半径
9 浏览量2025-06-08上传pdf0.38MB暂未评分
GBT 41765-2022 碳化硅单晶位错密度的测试方法
碳化硅单晶
位错密度
测试方法
7 浏览量2025-06-08上传pdf1.63MB暂未评分
GBT 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
硅单晶
氮含量
二次离子质谱法
15 浏览量2025-06-08上传pdf0.36MB暂未评分