SJ/T 11470-2014 发光二极管外延片
外延

689浏览行业标准-电子H83冶金 - 半金属与半导体材料 - 化合物半导体材料

SJ/T 11471-2014 发光二极管外延片测试方法
外延
测试
方法

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SJ/T 11275-2002 卧式液相外延系统通用规范
外延
卧式
液相

642浏览行业标准-电子L92电子元器件与信息技术 - 电子设备与专用材料、零件、结构件 - 电子设备用绝缘零件

SJ 20514-1995 微波功率晶体管用硅外延片规范
外延
晶体
微波

866浏览行业标准-电子H82冶金 - 半金属与半导体材料 - 元素半导体材料

SJ/T 10481-1994 硅外延层电阻率的面接触三探针测试方法
探针
外延
接触

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SJ/T 31110-1994 AMV--1284型硅外延炉完好要求和检查评定方法
外延
评定
检查

556浏览行业标准-电子L97电子元器件与信息技术 - 电子工业生产设备 - 加工专用设备

SJ/T 31111-1994 AMC--7811/21型桶式外延炉完好要求和检查评定方法
外延
评定
检查

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YS/T 290-1994 霍尔器件和甘氏器件用砷化镓液相外延片
霍尔
器件
外延

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YS/T 24-1992 外延钉缺陷的检验方法
外延
缺陷
检验方法

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YS/T 23-1992 硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法
堆垛
外延
测定

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JB/T 5631-1991 半导体器件外延炉 能耗分等
分等
外延
能耗

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YS/T 14-1991 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法
多晶
外延
厚度

981浏览行业标准-有色金属H82冶金 - 半金属与半导体材料 - 元素半导体材料

YS/T 15-1991 硅外延层和扩散层厚度测定 磨角染色法
外延
染色
测定

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SJ 3244.2-1989 砷化镓、磷化铟衬底与异质结外延层之间晶格失配的测量方法
晶格
失配
衬底

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SJ 3247-1989 同型砷化镓外延层厚度的红外干涉测试方法
外延
厚度
干涉

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