半导体
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YST 27-1992 晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法
晶片
微粒沾污
测量
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YST 28-1992 硅片包装
硅片
包装
半导体
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YST 719-2009 平面磁控溅射靶材.光学薄膜用硅靶
磁控溅射
硅靶材
平面靶材
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YST 792-2012 单晶炉用碳碳复合材料坩埚
碳碳复合材料
单晶炉
坩埚
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YST 840-2012 再生硅料分类和技术条件
再生硅料
分类
技术条件
13 浏览量2025-06-10上传pdf0.1MB暂未评分
YST 936-2013 集成电路器件用镍钒合金靶材
集成电路
镍钒合金
靶材
15 浏览量2025-06-10上传pdf0.23MB暂未评分
EJT 1242-2017 晶闸管辐射工艺技术要求
晶闸管
辐射工艺
技术要求
12 浏览量2025-06-10上传pdf0.34MB暂未评分
GB 6648-1986 半导体集成电路静态读写存储器空白详细规范
半导体
集成电路
静态读写存储器
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GB 8757-1988 砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法
砷化镓
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GBT 10118-2009 高纯镓
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金属材料
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GBT 11068-1989 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
砷化镓
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GBT 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
硅片
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12 浏览量2025-06-09上传pdf0.86MB暂未评分
GBT 11446.1-1997 电子级水
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10 浏览量2025-06-09上传pdf0.43MB暂未评分
GBT 11446.3-1997 电子级水测试方法通则
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GBT 11446.1-2013 电子级水
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